开关量检测电路笔记
最新推荐文章于 2025-09-08 16:20:18 发布
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#单片机
#嵌入式硬件
本文介绍了开关量检测电路的两种实现方式。左侧电路利用肖特基二极管检测TTL电平,当DTR输入低于3.3V时,检测为低电平;高于3.3V则通过上拉电阻检测为高电平。右侧电路采用光耦隔离,通过调整电阻大小控制光耦导通电流在4~10mA,中间并联电阻和肖特基二极管分别起到限流和浪涌保护的作用。这些设计确保了电路对低电平的可靠检测和信号隔离。
开关量:TTL(0/1)高低电平
左侧电路分析 DTR输入0,由于肖特基二极管导通压降很小,DTR0检测为低电平 DTR输入高于3.3v,DTR0检测为3.3V上拉电阻 此电路用于检测低电平
右侧电路分析 光耦隔离电路,光耦导通电流为4~10mA,根据输入调整电阻大小 中间并联电阻作用为限流,肖特基二极管作用为抗击浪涌,避免损坏光耦 参考: 浅谈光耦电路在开关量采集电路中的设计